高加速應力測試

高加速應力測試（HAST）的方法是由 Jeffrey E. Gunn, Sushil K. Malik 和 Purabi M. Mazumdar 首先提出，其應力測試的失效機制由CuAl和AuAl的IMC界面腐蝕和微裂紋以及誘發的電球鍵開路引起。

由於85 °C/85% RH的正常測試時間為1000小時，若需要更短的測試時間，則通過HAST在 130 °C/85% RH 下進行96小時的偏壓測試。然而，在130 °C/85% RH下進行測試有時會超過模塑化合物的玻璃化轉變溫度，因此，130 °C/85% RH結果可能並不總是與85 °C/85% RH結果有很好的相關性。HAST測試有時在較低的110 °C下進行，但時間稍長，為264小時。如果在HAST測試期間觀察到失效，則會將測試溫度降至85°C/85% RH。

濕度加速因子由下式計算

$AF_{\text{H}}=e^{{\text{const}}\cdot (RH_{\text{s}}^{n}-RH_{\text{o}}^{n})},$

其中 RH_s 是加速狀態相對濕度，RH_o 是工作環境相對濕度，n 是一個經驗得出的常數(一般1< n <5).

溫度加速因子由下式計算

$AF_{T}=e^{(E_{\text{a}}/k)(1/T_{\text{o}}-1/T_{\text{s}})},$

其中E_a 是活化能(電子產品通常是 0.7eV), k 是玻爾茲曼常數, T_o 是以開爾文為單位的工作溫度，T_s 是加速狀態溫度。

無偏壓高加速應力測試的總加速因子是

$AF_{\text{HAST}}=AF_{\text{H}}\cdot AF_{T}=e^{{\text{const}}\cdot (RH_{\text{s}}^{n}-RH_{\text{o}}^{n})}e^{(E_{\text{a}}/k)(1/T_{\text{o}}-1/T_{\text{s}})}.$

參考文獻

1. Gunn, Jeffrey E., Sushil K. Malik, and Purabi M. Mazumdar. "Highly accelerated temperature and humidity stress test technique (HAST)." Reliability Physics Symposium, 1981. 19th Annual. IEEE, 1981.

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